Система рентгеноскопии печатных плат XT V 160
Система рентгеноскопии Metris X-TEK XT V 160 позволяет исследовать печатные платы на предмет наличия внутренних и внешних дефектов. Высокое разрешение, составляющее 0.5 мкм, позволяет исследовать самые сложные электронные изделия.
